復(fù)合式超聲波硬度計(jì)

更新時(shí)間：2024-12-22

簡要描述：

LAB-H2超聲波硬度計(jì)可測量的工件部位包括法蘭盤邊緣和齒輪根部沖壓件；工模、薄板；表面硬化的齒和齒輪的測量；錐度部分硬度測量；軸和薄壁管道、容器的測量；車輪、渦輪轉(zhuǎn)子的硬度測量；鉆頭的刀口的硬度測量；焊接部位；

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LAB-H2復(fù)合式超聲波硬度計(jì)

目前，硬度測試可采用的方法很多，如布氏、洛式、維氏、里氏、超聲波法等。其中布氏和洛式對被測物表面損傷較大、而維氏成本較高，且都不能測試大型工件；里氏硬度計(jì)屬間接測量硬度，測試布氏、洛式、維氏偏差較大。隨著微處理器的技術(shù)發(fā)展，超聲波無損檢測方法已獲得了行業(yè)認(rèn)可，其中超聲波測厚儀和探傷儀已經(jīng)廣泛應(yīng)用，而超聲波硬度計(jì)也在國外普及。

LAB-H2超聲波硬度計(jì)原理

使硬度計(jì)金剛石壓頭與被測件接觸，在均勻的接觸壓力下，探測頭的諧振頻率隨硬度而改變，通過計(jì)量該頻率的變化達(dá)到測量硬度的目的，該方法對被測件的損傷極小，與上述其它方法相比具有很大的*性?；谝陨显?，我公司引進(jìn)歐洲原裝超聲波探頭，研制出精度高、功能強(qiáng)大的LAB-H2型智能數(shù)顯超聲波硬度計(jì)。

超聲波硬度計(jì)原理公式：HV=F/（△f，Eeff），△f代表頻率變化量、Eeff代表彈性模量、F是彈簧壓緊力。

應(yīng)用場合

LAB-H2超聲波硬度計(jì)功能特點(diǎn)

o 測定與金屬、合金洛氏（HRC）, 布氏（HB）, 維氏（HV）標(biāo)準(zhǔn)硬度制

o 通過三個(gè)用戶模式測量不同屬性的金屬（如有色金屬, 高合金等.）

o 符合標(biāo)準(zhǔn)JB/T 9377-2010、ASTM A1038-2005、DIN50159、GB/T17394-1998、JB/T9378-2001

o 通過布氏硬度可自動(dòng)計(jì)算出抗拉強(qiáng)度

o 可測量厚度超過1毫米的各種部件（工模、齒輪、薄板、管道、水箱等等）

o 對曲軸刀具等鏡面產(chǎn)生的劃痕極小

o 測量范圍寬

o 使用簡單方便，測量快速準(zhǔn)確

o 可自行校準(zhǔn)儀器（通過兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣塊可對儀器測值校準(zhǔn)）

o 液晶顯示，帶背光

o 自由選擇10N、50N、100N探頭，儀器自動(dòng)識(shí)別

o 不受測量物內(nèi)側(cè)情況影響，適用于復(fù)雜外形和難以接觸的部位

o 測量方向可以全方向自由變化—上下左右不論哪個(gè)方向都可不用補(bǔ)償直接測量

LAB-H2超聲波硬度計(jì)技術(shù)參數(shù)

測試范圍洛氏硬度, HRC 布氏硬度, HB 維氏硬度, HV 抗拉強(qiáng)度, MPa	20 - 70 90 - 450 230 - 940 370 - 1740
誤差范圍洛氏硬度, HRC 布氏硬度, HB 維氏硬度, HV	± 1 ± 3% ± 3%
外形尺寸, mm	120x60 x25
操作溫度° C	-5至+40
電源	4節(jié)AA電池
持續(xù)工作時(shí)間, 不少于	100小時(shí)
主機(jī)重量, kg	0.9千克

訂貨型號(hào)

名稱型號(hào)	產(chǎn)品描述
超聲波硬度計(jì) LAB-H1	標(biāo)配進(jìn)口超聲波探頭一支
復(fù)合式硬度計(jì) LAB-H2	標(biāo)配進(jìn)口超聲波和里氏兩種探頭
里氏硬度計(jì) LAB-H3	標(biāo)配進(jìn)口里氏探頭一支

標(biāo)準(zhǔn)配置清單

o 主機(jī)

o 超聲波標(biāo)準(zhǔn)探頭50N（也可選擇10N或100N探頭）

o 進(jìn)口里氏探頭

o 2節(jié)AA電池

o 說明書

o 線纜

o 儀器便攜包裝

可選配置

o 10N探頭和100N探頭

o 充電器

o 校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)試塊

超聲波探頭和里氏探頭的技術(shù)參數(shù)

測試裝置	超聲波探頭	里氏探頭
長度：	160mm	140mm
直徑	25mm	25mm
壓痕深度	30μm	300 μm
壓力	14.7N	11Nm
傳感器測試壽命（大約）	200,000	50,000
zui小測試厚度（鋼）	1mm	12mm
zui小測試半徑	5mm	10mm
zui大表面粗糙度	Ra 2.5 μm	Ra 3.2 μm
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)	1000個(gè)測試值	100個(gè)測試值
測試時(shí)間	4秒	2秒